پاورپوینت کامل lاجزای دستگاه XRF 24 اسلاید در PowerPoint

تعداد اسلاید :۲۰

قسمتی از فایل:

lروش فلور سانس پرتو ایکس یکی از روش های آنالیز عنصری است که امروزه از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود.

l

lاین روش به ویژه به خاطر سرعت زیاد در شناسایی عنصر، برای برخی صنایع ضروری است اما دستگاههای XRFاز نظر سرمایه گذاری ابتدایی هزینه بالایی نیاز دارند. بنابراین همه مراکز صنعتی و آزمایشگاهی توان خرید آن را ندارند.

l

lحد تشخیص (Detection Limit) دستگاه XRF درحد صدم درصد می باشد.

l XRFتقریبا تمامی عناصر جدول تناوبی از برلیم تا اورانیوم (البته جز گازهای نجیب) را اگر مقدار این عناصر درحد تشخیص باشد مشخص می کند.lلوله پدید آورنده پرتو ایکس

lبلورآنالیز کننده

lآشکار ساز

lجمع کننده (collimator) لوله پدید آورنده پرتو ایکس

lوظیفه لوله پرتو ایکس پدید آوردن پرتوی با شدت زیاد برای برانگیختگی همه عنصرهای موجود در نمونه مجهول است. در دستگاه های مختلف XRFاز لوله های مختلفی استفاده می شود که تفاوت آنها در توان استفاده شده در لوله و نوع سیستم خنک کننده می باشد.

l بلور آنالیز کننده

l بلورفلورید سدیم (NaF) بیشترین کاربرد را در این دستگاه ها دارد زیرا این بلور توانایی شناسایی عنصرهای از پتاسیم تا اورانیوم را دارد.

l

lمواد دیگری که به عنوان بلور آنالیز کننده در دستگاه های XRFاستفاده می شود بلور ژرمانیم است که برای شناسایی عنصرهای از فسفر تا کلر به کار می رود. ترکیبات پلیمری نیز برای شناسایی عنصرهای سبک مفید ترند.

lامروزه در دستگاههای XRF برای پرهیز از جابجایی پیوسته بلور های آنالیز کننده آنها را بر روی یک منشور چند وجهی سوار می کنند و بدین ترتیب با چرخاندن منشور بلور مورد نظر به راحتی در برابر پرتو ایکس قرار می گیرد.