فایل ورد کامل ترجمه مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی ۳۴ صفحه در word

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

 فایل ورد کامل ترجمه مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی ۳۴ صفحه در word دارای ۳۴ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

لطفا نگران مطالب داخل فایل نباشید، مطالب داخل صفحات بسیار عالی و قابل درک برای شما می باشد، ما عالی بودن این فایل رو تضمین می کنیم.

فایل ورد فایل ورد کامل ترجمه مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی ۳۴ صفحه در word  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی فایل ورد کامل ترجمه مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی ۳۴ صفحه در word،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن فایل ورد کامل ترجمه مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی ۳۴ صفحه در word :

دانلود فایل ورد کامل ترجمه مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی ۳۴ صفحه در word
ترجمه در قالب فایل Word و قابل ویرایش میباشد
سال انتشار:۲۰۱۲
تعداد صفحه ترجمه:۱۸
تعداد صفحه فایل انگلیسی:۱۲

موضوع انگلیسی :An effective two-pattern test generator for Arithmetic BIST
موضوع فارسی:دانلود فایل ورد کامل ترجمه مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی ۳۴ صفحه در word
چکیده انگلیسی:Built-In Self Test (BIST) techniques perform test pattern generation and response verification
operations on-chip. In Arithmetic BIST, modules that commonly exist in datapaths
(accumulators, counters, etc.) are utilized to perform the above-mentioned operations. In
order to detect faults that occur into current CMOS circuits, two-pattern tests are required.
Furthermore, delay testing, commonly used to assure correct temporal circuit operation at
clock speed requires two-pattern tests. In this paper a novel two-pattern test generator for
Arithmetic BIST is presented. Its hardware implementation compares favorably to the techniques
that have been presented in the literature. Application of the proposed scheme for
the two-pattern testing of ROM modules revealed that the testing of small-to-medium size
ROMs is completed within reasonable time and with negligible hardware overhead.
چکیده فارسی:روش‌های خود تست کننده توکار (BIST) الگوسازی تست را انجام می‌دهند و به عملیات‌های تأییدی بر روی تراشه پاسخ می‌دهند. در BIST محاسباتی، ماژول‌هایی که معمولاً در مسیر داده‌ها وجود دارند (انباشتگرها، شمارشگرها و غیره) جهت اجرای عملیات‌های فوق‌الذکر بکار برده می‌شوند. به منظور شناسایی خرابی‌هایی که در مدارات جریان CMOS رخ می‌دهد، تست‌های دو الگویی مورد نیاز می‌باشد. بعلاوه، تست تأخیر که معمولاً اطمینان یافتن از عملیات مدار زمانی با سرعت زمان‌سنجی استفاده می‌شود نیاز به تست‌های دو الگویی دارد. در این مقاله، مولد تست دو الگویی جدیدی برای BIST محاسباتی ارائه می‌شود. اجرای سخت‌افزاری آن بطور مطلوب با روش‌های دیگری که در ادبیات ارائه شده‌اند مقایسه می‌شود. کاربرد طرح پیشنهادی برای تست دو الگویی ماژول‌های ROM آشکار می‌سازد که تست ROMهایی با اندازه کوچک تا متوسط در زمانی منطقی و با بالاسری سخت‌افزاری ناچیزکامل می‌شود.