فایل ورد کامل مدلسازی برای شبیه سازی مدار در ترانزیستور های اثر میدانی به صورت نانولوله های کربنی و نانوربان های گرافنی

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

این مقاله، ترجمه شده یک مقاله مرجع و معتبر انگلیسی می باشد که به صورت بسیار عالی توسط متخصصین این رشته ترجمه شده است و به صورت فایل ورد (microsoft word) ارائه می گردد

متن داخلی مقاله بسیار عالی، پر محتوا و قابل درک می باشد و شما از استفاده ی آن بسیار لذت خواهید برد. ما عالی بودن این مقاله را تضمین می کنیم

فایل ورد این مقاله بسیار خوب تایپ شده و قابل کپی و ویرایش می باشد و تنظیمات آن نیز به صورت عالی انجام شده است؛ به همراه فایل ورد این مقاله یک فایل پاور پوینت نیز به شما ارئه خواهد شد که دارای یک قالب بسیار زیبا و تنظیمات نمایشی متعدد می باشد

توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل می باشد و در فایل اصلی فایل ورد کامل مدلسازی برای شبیه سازی مدار در ترانزیستور های اثر میدانی به صورت نانولوله های کربنی و نانوربان های گرافنی،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

تعداد صفحات این فایل: ۲۱ صفحه

در این مقاله روشی برای تعیین معادلات مدل مدار از معادلات ویژه دستگاه های چند سری ارائه شده است. این روش برای به دست آوردن معادلات تمبر از نانولوله های کربنی و ترانزیستورهای اثر میدان گرافنی گرافن (FET ها) برای استفاده در شبیه سازهای مدار عمومی استفاده می شود. ما ابتدا روش های موجود مدلسازی فیزیکی را برای شبیه سازی مدار بررسی کرده و برخی از نقاط ضعف در این مدل ها را ذکر می کنیم. سپس توضیح می دهیم که چگونه معادلات مدل را بدون نیاز به حذف متغیرهای داخلی دستگاه و بدون نیاز به ساخت مدار معادل متشکل از اتصالات مقاومت دو ترمینال، منابع کنترل شده و خازن های دو ترمینال مستقیما از معادلات مشخصه فیزیکی دستگاه بیرون می آوریم .

کلمات کلیدی: FET های نانولوله کربن | تمبر معادله مدار | مدل های مدار | شبیه سازی مدار | تجزیه وتحلیل گره | گرافن FET های نانو روبان | MOSFETs | پتانسیل سطح

عنوان انگلیسی:

On Device Modeling for Circuit Simulation With Application to Carbon-Nanotube and Graphene Nano-Ribbon Field-Effect Transistors

~~en~~ writers :

Ibrahim N: Hajj, Fellow

This paper presents a method for deriving circuit model
stamp equations from the characteristic equations of multiterminal
devices. The method is applied to the derivation of stamp equations of carbon nanotube and graphene nano-ribbon field-effect transistors (FETs)
for use in general-purpose circuit simulators. We first review existing
methods of modeling FETs for circuit simulation and point out some
of the weaknesses in these models. We then explain how to derive
model equation stamps directly from the device physical characteristic equations without the need of eliminating internal device variables
and without having to construct equivalent circuits consisting of interconnections of two-terminal resistors, controlled sources, and two-terminal
capacitors.

Index Terms: Carbon-nanotube FETs | circuit equation stamps | circuit models | circuit simulation | extended nodal analysis | graphene nano-ribbon FETs | MOSFETs | surface potential.

$$en!!