فایل ورد کامل اجزای مختلف برای میکروسکوپ نیروی اتمی با سرعت بالا

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

این مقاله، ترجمه شده یک مقاله مرجع و معتبر انگلیسی می باشد که به صورت بسیار عالی توسط متخصصین این رشته ترجمه شده است و به صورت فایل ورد (microsoft word) ارائه می گردد

متن داخلی مقاله بسیار عالی، پر محتوا و قابل درک می باشد و شما از استفاده ی آن بسیار لذت خواهید برد. ما عالی بودن این مقاله را تضمین می کنیم

فایل ورد این مقاله بسیار خوب تایپ شده و قابل کپی و ویرایش می باشد و تنظیمات آن نیز به صورت عالی انجام شده است؛ به همراه فایل ورد این مقاله یک فایل پاور پوینت نیز به شما ارئه خواهد شد که دارای یک قالب بسیار زیبا و تنظیمات نمایشی متعدد می باشد

توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل می باشد و در فایل اصلی فایل ورد کامل اجزای مختلف برای میکروسکوپ نیروی اتمی با سرعت بالا،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

تعداد صفحات این فایل: ۱۴ صفحه

۵ جمع بندی
در این کار، ما بهبود های مختلفی را که برای AFM های سریع ایجاد کرده ایم، توصیف کردیم. با استفاده از سنسور های پایه ای کوچک ( ۱۰ um عرض، ۱۰۰nm ضخامت)، ما پهنای باند این سنسور های پایه ای را افزایش دادیم و تراکم توان نویز را نیز کاهش دادیم. یک مفهوم طراحی اسکنر به ما امکان سرعت بالای اسکن را میدهد اما همچنان سایز اسکن ۱۵um باقی میماند. این دو بهبود را میتوان به صورت تک به تک استفاده کرد، که به ما این امکان را میدهد تا سرعت اسکن را در مقایسه با سیستم های متداول افزایش دهیم. ترکیبی از این دو مفهوم، همراه با استفاده از DAQ های سریع و روش های بهبود یافته کنترل، امکان افزایش بیشتر سرعت اسکن را فراهم میکند.

عنوان انگلیسی:Components for high speed atomic force microscopy~~en~~

۵ Conclusion

In this work, we have described several improvements we have made for high speed AFM. Using small cantilevers (10 mm wide, 100 nm thick), we increase the bandwidth of the cantilever and reduce its noise power density. A new scanner design concept allows higher scan speeds while still retaining a 15 mm scan size. These two improvements can be used individually, as each will allow an increase of the scan speed compared to conventional systems. A combination of the two, together with the use of a faster DAQ system and improved control methods, will allow for further increases of the scan speed.

$$en!!