فایل ورد کامل  طراحی یک latch چفت شده کم هزینه و با تشعشع قابل اطمینان بالا توسط فناوری ۶۶ nm CMOS

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

این مقاله، ترجمه شده یک مقاله مرجع و معتبر انگلیسی می باشد که به صورت بسیار عالی توسط متخصصین این رشته ترجمه شده است و به صورت فایل ورد (microsoft word) ارائه می گردد

متن داخلی مقاله بسیار عالی، پر محتوا و قابل درک می باشد و شما از استفاده ی آن بسیار لذت خواهید برد. ما عالی بودن این مقاله را تضمین می کنیم

فایل ورد این مقاله بسیار خوب تایپ شده و قابل کپی و ویرایش می باشد و تنظیمات آن نیز به صورت عالی انجام شده است؛ به همراه فایل ورد این مقاله یک فایل پاور پوینت نیز به شما ارئه خواهد شد که دارای یک قالب بسیار زیبا و تنظیمات نمایشی متعدد می باشد

توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل می باشد و در فایل اصلی فایل ورد کامل  طراحی یک latch چفت شده کم هزینه و با تشعشع قابل اطمینان بالا توسط فناوری ۶۶ nm CMOS،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

تعداد صفحات این فایل: ۲۵ صفحه

۶ نتیجه گیری
در این مقاله یک مدار latch چفت شده ارزان قیمت با قابلیت اطمینان بالا در مقابل تشعشع پیشنهاد داده شده است که توسط فناروی تجاری ۶۵ nm پیاده سازی شده است. بر اساس طراحی ساختار منطقی، latch پیشنهادی به طور از نظر SEU مصون است که به معنای ان است که می تواند یک SEU را بر روی هر یک از نود های منفرد داخلی اش تحمل کند. علاوه بر این latch پیشنهادی قابلیت فیلترینگ SET را نیز دارد. بنابراین latch پیشنهادی نه تنها خطا های نرم (کم شدت) حاصل شده توسط SET های ورودی در بخش های پیوندی (ترکیبی) را تحمل می کند بلکه همچنین می تواند SEU های داخلی در بخش های پشت سر هم (متوالی) را نیز تحمل نماید. Latch پیشنهادی همچنین بر مساله رسیدن به حالت امپدانسی بالا در هنگامی که یک ذره بر روی نود های داخلی اش برخورد می کند، غلبه کرده است. در مقایسه با latch هیا نوع ۴، latch پیشنهادی ما دارای ویژگی حداقل به ترتیب ۳۹% و ۶۷۶% کاهش در مصرف توان و محصول تاخیر توان (PDP) است. به بیان دیگر latch پیشنهادی ما دارای کمترین مصرف توان و محصول تاخیر توان در میان latch های نوع ۴ است در حالی که دارای رتبه دوم از نظر کمترین سربار محیطی است و قابل رقابت با سایر latch ها از نظر تحمل SEMU ها می باشد. اثرات تغییرات پردازش، ولتاژ منبع تغذیه و درجه حرارت بر روی latch پیشنهادی نیز مورد بررسی قرار گرفته است که نشان می دهد latch پیشنهادی حساسیت کمتری به ولتاژ و پردازش دارد.

عنوان انگلیسی:Low cost and highly reliable radiation hardened latch design in 65 nm CMOS technology~~en~~

۶ ConclusionThis

paper has proposed a low cost and highly reliable radiationhardened latch circuit which is implemented in 65 nm commercialtechnology. By reasonable structure design, the proposed latch isfully SEU immune which means that it can tolerate an SEU onany one of its internal single node. In addition, the proposed latchis capable of SET filtering. Hence, the proposed latch not only cantolerate the soft errors caused by input SETs in combinationalparts, but also can tolerate internal SEUs in sequential parts. Theproposed latch has also overcome the problem of taking a highimpedance state when a particle strikes on some of its internalnodes. Compared with the latches of type 4, our proposed latchfeatures at least 39% and 67.6% reduction of power consumptionand power delay product, respectively, in other words, our proposedlatch has the lowest power consumption and power delayproduct among the latches of type 4, while it features a secondlowest area overhead and has a comparable ability of SEMUs tolerance.The impacts of process, supply voltage and temperaturevariation on proposed latch are also investigated, which shows thatour proposed latch is less sensitive to voltage and process.

$$en!!