فایل ورد کامل عیب یابی عملیاتی برای تنزل مطبوع سوئیچ های NoC

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

این مقاله، ترجمه شده یک مقاله مرجع و معتبر انگلیسی می باشد که به صورت بسیار عالی توسط متخصصین این رشته ترجمه شده است و به صورت فایل ورد (microsoft word) ارائه می گردد

متن داخلی مقاله بسیار عالی، پر محتوا و قابل درک می باشد و شما از استفاده ی آن بسیار لذت خواهید برد. ما عالی بودن این مقاله را تضمین می کنیم

فایل ورد این مقاله بسیار خوب تایپ شده و قابل کپی و ویرایش می باشد و تنظیمات آن نیز به صورت عالی انجام شده است؛ به همراه فایل ورد این مقاله یک فایل پاور پوینت نیز به شما ارئه خواهد شد که دارای یک قالب بسیار زیبا و تنظیمات نمایشی متعدد می باشد

توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل می باشد و در فایل اصلی فایل ورد کامل عیب یابی عملیاتی برای تنزل مطبوع سوئیچ های NoC،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

تعداد صفحات این فایل: ۲۲ صفحه

V. نتیجه گیری
این مقاله یک روش عیب‌یابی عملیاتی را ارائه می دهد که اطلاعات مربوط به خطای ساختاری را برای پیکربندی مجدد استخراج می‌کند. مشخصه خرابی هر خطای ساختاری استخراج شده و در یک دیکشنری دسته‌بندی ذخیره می شود. این مشخصه، مجموعه ای از حالت‌های خرابی عملیاتی را مشخص می کند که به علت وجود خطای ساختاری در مدار تولید شده است. علاوه بر این، مجموعه ی پورت‌های خراب‌شده سوئیچ برای هر مشخصه خرابی استخراج می شود و در یک مخزن پیکربندی ذخیره می شود.
الگوهای تست عملیاتی برای تولید مشخصه خطای از قبل‌تعریف‌شده برای هر خطای ساختاری توسعه داده می شوند. بنابراین، با وجود نقص ها و با اعمال الگوهای تست عملیاتی به سوئیچ تحت تست، مشخصه خرابی استخراج می شود. با توجه به مشخصه مشاهده‌شده، دلایل ساختاری سوء عمل مشاهده‌شده در دیکشنری دسته‌بندی قابل یافتن است. علاوه بر این، پورت های سوئیچ مربوطه که می بایست غیر فعال شوند، از مخزن پیکربندی مجدد مورد جستجو قرار می گیرند. این کار، پیکربندی مجدد NoC های ناقص با استفاده از تست های عملیاتی را امکانپذیر می سازد.

عنوان انگلیسی:Functional Diagnosis for Graceful Degradation of NoC Switches~~en~~

V. CONCLUSION

This paper presented a functional diagnosis approach which extracts structural fault information for fine-grained reconfiguration. The failure signature of each structural fault is extracted and stored in a classification dictionary. The signature specifies the set of functional failure modes that are produced in the presence of a structural fault in the circuit. Moreover, the set of broken switch ports for each failure signature is extracted and saved in a reconfiguration storage. The functional test patterns are extended to generate the predefined failure signature for each structural fault. Thus, in the presence of defects and by applying the functional test patterns to the switch under test, the failure signature is extracted. With respect to the observed signature, the structural root causes of the observed malfunctions can be looked up from the classification dictionary. Moreover, the respective switch ports to be deactivated are looked up from the reconfiguration storage. This enables a fine-grained reconfiguration of the defective NoCs by using only functional tests.

$$en!!