فایل ورد کامل ترجمه مقاله سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA 44 صفحه در word

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

 فایل ورد کامل ترجمه مقاله سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA 44 صفحه در word دارای ۴۴ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

لطفا نگران مطالب داخل فایل نباشید، مطالب داخل صفحات بسیار عالی و قابل درک برای شما می باشد، ما عالی بودن این فایل رو تضمین می کنیم.

فایل ورد فایل ورد کامل ترجمه مقاله سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA 44 صفحه در word  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی فایل ورد کامل ترجمه مقاله سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA 44 صفحه در word،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن فایل ورد کامل ترجمه مقاله سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA 44 صفحه در word :

دانلود فایل ورد کامل ترجمه مقاله سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA 44 صفحه در word
ترجمه در قالب فایل Word و قابل ویرایش میباشد
سال انتشار:۲۰۱۲
تعداد صفحه ترجمه:۲۹
تعداد صفحه فایل انگلیسی:۱۱

موضوع انگلیسی :A Built-In Self-Test (BIST) system with non-intrusive TPG and ORA for FPGA test
and diagnosis

موضوع فارسی:دانلود فایل ورد کامل ترجمه مقاله سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA 44 صفحه در word
چکیده انگلیسی:This paper presents a BIST system with non-intrusive test pattern generator (TPG) and output response
analyzer (ORA) for field-programmable gate array (FPGA) test and diagnosis. The proposed BIST system
physically consists of software and hardware parts with two communication channels in between. The
TPG and ORA of the BIST circuitry are in the software part while a circuit under test (CUT) is in the hardware
part, respectively. One more FPGA is incorporated in the hardware part to act as an interface
between the TPG, ORA and the CUT. Algorithms for FPGA test and diagnosis are also presented. Compared
with embedded BIST technique, configuration numbers can be reduced without exchanging the TPG, ORA
for the CUT when the proposed BIST system is applied to test an FPGA. Also, the proposed BIST system can
provide good observability and controllability for the FPGA-under-test due to the proposed algorithms
developed for test and diagnosis. No matter what type and array size of an FPGA-under-test is, the
CUT can be tested by the proposed BIST system. The BIST system is evaluated by testing several Xiliفایل ورد کامل ترجمه مقاله سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA 44 صفحه در word
series FPGAs, and experimental results are provided
چکیده فارسی:

چکیده

این مقاله، سیستم BIST را با مولد الگوی آزمایشی غیر توکار (TPG) و تحلیگر پاسخ خروجی (ORA) برای تست و تشخیص آرایه گیت برنامه­پدیر میدانی ارائه می­دهد. سیستم BIST پیشنهادی، بطور فیزیکی شامل اجزاء نرم افزاری و سخت افزاری است که بین آنها دو کانال ارتباطاتی وجود دارد .TPG و ORA مدارات BIST در بخش نرم افزاری هستند در حالیکه مدار تحت آزمون (CUT) مداری در بخش سخت افزاری است. یک EPGA دیگر در بخش سخت افزاری جای داده می­شود تا به عنوان رابط بین TPG، ORA و CUT عمل کند. الگوریتم­های تست و تشخیص EPGA نیز ارائه شدند. در مقایسه با روش BIST توکار، وقتی سیستم BIST پیشنهادی جهت تست FPGA بکار برده می­شود اعداد پیکربندی بدون مبادله TPG ، CRA برای CUT کاهش داده می­شود. همچنین سیستم BIST پیشنهادی مشاهده پذیری و کنترل پذیری خوبی را برای FPGA تحت آزمون ارائه می­دهد که به علّت الگوریتم­های پیشنهادی است که برای تست و تشخیص توسعه داده می­شوند. هیچ اهمیتی ندارد FPGA تحت آزمون از چه نوع و اندازه آرایه­ای باشد، CUT از طریق سیستم BIST پیشنهادی تست می­شود. سیستم BIST از طریق تست چند EPGA مجموعه Xiliفایل ورد کامل ترجمه مقاله سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA 44 صفحه در word ارزیابی می­شود و نتایج آزمایشاتی ارائه می­شود.